Richard Cosway: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (15)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

The Coping Inventory for Stressful Situations: Factorial Structure and Associations With Personality Traits and Psychological Health

Richard Cosway, Norman S. Endler, Andrew J. Sadler, Ian J. Deary

Журнал:

Journal of Applied Biobehavioral Research

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.06 MB

english, 2000

2

What does the Edinburgh high-risk study tell us about schizophrenia?

Eve C. Johnstone, Stephen M. Lawrie, Richard Cosway

Журнал:

American Journal of Medical Genetics Part A

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 88 KB

english, 2002

3

The effect of sleep fragmentation on cognitive processing using computerized topographic brain mapping

Ruth N. Kingshott, Richard J. Cosway, Ian J. Deary, Neil J. Douglas

Журнал:

Journal of Sleep Research

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 84 KB

english, 2000

4

Measurement of lateral preferences and schizophrenia: results of the Edinburgh High-Risk Study and methodological issues

Majella Byrne, Robert A Clafferty, Richard Cosway, Elizabeth Grant, Ann Hodges, Stephen M Lawrie, Eve C Johnstone

Журнал:

Psychiatry Research

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 134 KB

english, 2004

5

The association between neuropsychology and psychotic symptoms in the Edinburgh high risk for schizophrenia study

Majella Byrne, Richard Cosway, Ann Hodges, Elizabeth Grant, Bobby Clafferty, Steven Lawrie, David Cunningham Owens, Eve C. Johnstone

Журнал:

Schizophrenia Research

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 93 KB

english, 2000

6

Commercial Code: Part 2 || Innovations in Articles Three and Four of the Uniform Commercial Code

Журнал:

Law and Contemporary Problems

Рік:

1951

Мова:

english

Файл:

PDF, 785 KB

english, 1951

7

Comparison of Thin Thermal SiO[sub 2] Grown Using HCl and 1,1,1 Trichloroethane (TCA)

Cosway, Richard G.

Журнал:

Journal of The Electrochemical Society

Рік:

1985

Мова:

english

Файл:

PDF, 472 KB

english, 1985

8

Effect of Oxidation Ambient on the Electrical Properties of Thin Silicon Oxide

Cosway, Richard G.

Журнал:

Journal of The Electrochemical Society

Рік:

1985

Мова:

english

Файл:

PDF, 394 KB

english, 1985

9

Effect of RTA on Thin Thermal Oxide

Cosway, Richard G.

Журнал:

Journal of The Electrochemical Society

Рік:

1988

Мова:

english

Файл:

PDF, 176 KB

english, 1988

10

Effects of cations on the rapid pyrolysis of a Wyodak subbituminous coal

Franklin, Howard D., Cosway, Richard G., Peters, William A., Howard, Jack B.

Журнал:

Industrial & Engineering Chemistry Process Design and Development

Рік:

1983

Мова:

english

Файл:

PDF, 468 KB

english, 1983

11

SPIE Proceedings [SPIE Microelectronic Manufacturing - Santa Clara, CA (Sunday 20 September 1998)] Process, Equipment, and Materials Control in Integrated Circuit Manufacturing IV - Mechanism for QBD failure in poly gates

Barker, Judith B., Wu, Robert, Cosway, Richard G., Stephens, Julie, Cote, Rich, Toprac, Anthony J., Dang, Kim

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.29 MB

english, 1998

12

[IEEE 2016 27th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) - Saratoga Springs, NY, USA (2016.5.16-2016.5.19)] 2016 27th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) - A novel technique for epitaxy tool-to-tool and chamber matching and optimization: ER: Equipment reliability and productivity enhancements

Cosway, Richard G., Burch, Steven R., Rosser, Andrew D., Lazok, Phillip T.

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 980 KB

english, 2016

13

SPIE Proceedings [SPIE Microelectronic Manufacturing - Austin, TX (Wednesday 1 October 1997)] In-Line Characterization Techniques for Performance and Yield Enhancement in Microelectronic Manufacturing - Implementation of in-line Fowler-Nordheim testing for tunnel oxide thickness determination in manufacturing

John, Laura D., Cosway, Richard G., Griswold, Mark D., Lamb, Gerald M., DeBusk, Damon K., Ajuria, Sergio A.

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 275 KB

english, 1997

14

Neuropsychology, genetic liability, and psychotic symptoms in those at high risk of schizophrenia.

Byrne, Majella, Clafferty, Bobby A., Cosway, Richard, Grant, Elizabeth, Hodges, Ann, Whalley, Heather C., Lawrie, Stephen M., Owens, David G. Cunningham, Johnstone, Eve C.

Журнал:

Journal of Abnormal Psychology

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 509 KB

english, 2003

15

Distinguishing characteristics of subjects with good and poor early outcome in the Edinburgh High-Risk Study

Johnstone, Eve C., Cosway, Richard, Lawrie, Stephen M.

Журнал:

The British Journal of Psychiatry

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 107 KB

english, 2002